Analizador XRF X-200
El caballo de batalla. Nuestro analizador XRF X-200 es la combinación perfecta de alto rendimiento y precio atractivo.
El X-200 ofrece una velocidad y un rendimiento comparables o superiores a los analizadores de gama alta de otras marcas. Utiliza un SDD de alto rendimiento combinado con un tubo de rayos X altamente optimizado y una geometría del detector. El X-200 se está convirtiendo rápidamente en la primera opción para el procesamiento de chatarra y las pruebas no destructivas debido a la velocidad y el rendimiento analítico combinados con el diseño liviano y de factor de forma pequeño. Es rápido en todas las familias de aleaciones, incluidas las aleaciones de aluminio. Para aplicaciones geoquímicas, ofrece conjuntos de elementos para medio ambiente, exploración y minería. Otras aplicaciones disponibles incluyen suelo ambiental, RoHS, metales preciosos, catalizadores de automóviles, revestimientos y la aplicación empírica SciAps para usuarios que desean probar otros tipos de materiales y generar sus propios modelos de calibración. Los analizadores pueden calibrarse de fábrica con parámetros fundamentales, normalización de Compton (método EPA 6200) o calibraciones empíricas definidas por el usuario.
Tubo de rayos-x: 40 kV, ánodo Rh (aleación) o 50 kV ánodo Au (Geochem, Soil, RoHS, otros).
Tarifa del detector: SDD y DPP estándar de 20 mm2. 125k cps, > 90% en vivo.
Metales y Aleaciones
Clasificación básica de SS, altas temperaturas y metales rojos. Solo clasifique las aleaciones de Al por MLC y 2000 y 7000.
Geoquímica y suelos
Aplicaciones geoquímicas disponibles con conjuntos de elementos para medioambiente, pioneros, exploración y minería.
RoHS
Análisis rápido y preciso para elementos RoHS Pb, Hg, Cd, Br y Cr. También incluye otros materiales restringidos más libres de halógenos. Funciona en 3 condiciones de haz diferentes para optimizar los límites de detección en toda la tabla periódica. Reconocimiento automático del tipo de muestra (polímero, aleación o tipo mixto), completo con cámara para documentación fotográfica.
Paquete de elementos estándar
El paquete de elementos estándar para el X-50 se muestra en la siguiente tabla. ¿Necesita otros elementos? ¡Solo pregunta! Añadimos o sustituimos elementos con frecuencia para aplicaciones específicas.
RoHS y sustancias restringidas
Análisis de cinco haces para obtener el máximo rendimiento en todos los elementos y tipos de materiales
Peso
3.3 libras con batería
Fuente de excitación
Ánodo Rh de 6-40 kV, 200 uA para pruebas de aleaciones, ánodo de Au de 6-50 kV, 200 uA para la mayoría de las otras aplicaciones.
Calibración
Parámetros fundamentales. Para Geochem y Env. Soil Apps, los usuarios también pueden elegir el método de "Normalización de Compton" y/o usar calibraciones derivadas empíricamente.
Dimensiones
7.25 "x 10.5" x 4.5 "
Detector
20 mm2 detector de deriva de silicio (área activa), resolución de 135eV FWHM en línea K-alfa de 5.95Mn.
Comprobación de calibración
El obturador interno también es de acero inoxidable 316 para calibración totalmente automatizada y validación de escala de energía.
Motor
Batería de iones de litio recargable integrada, dispositivo interno recargable o con cargador externo, alimentación de CA, capacidad de intercambio en caliente (60 s de tiempo máximo de intercambio).
Filtrado de rayos X
Rueda de filtros de 6 posiciones para optimizar el haz.
Temperatura ambiental. Rango
10 °F a 130 °F con un ciclo de trabajo del 25 %
Pantalla
Pantalla táctil a color de 5″ tipo teléfono inteligente: gráfico 540D PowerVR SGX3.
Procesador de host de electrónica de procesamiento
ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2GHz Memoria: 1GB DDR2 RAM, 1GB NAND Almacenamiento de resultados: 8GB SD
Seguridad
Uso protegido por contraseña (nivel de usuario) y configuración interna (administrador).
Comunicaciones/Transferencia de datos
Wi-Fi, Bluetooth, USB. Conectividad a la mayoría de los dispositivos, incluido el software para PC SciAps Profile Builder.
Procesador de pulsos
ADC de 14 bits con tasa de digitalización de 80 MSPS Canal 8K MCA USB 2.0 para transferencia de datos de alta velocidad al procesador anfitrión Filtrado digital implementado en FPGA para procesamiento de pulsos de alto rendimiento 50nS – 24uS tiempo pico
Regulador
CE, RoHS, USFDA registrada, Ley RED de Canadá.
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Oficina
Woburn, MA 01801
Estados Unidos
